本振動控制(zhi)系統主要是用作振動和(he)沖擊試(shi)驗(yan)(yan)控制(zhi)。從(cong)(cong)振動試(shi)驗(yan)(yan)的歷史來看，試(shi)驗(yan)(yan)是從(cong)(cong)定頻(pin)正(zheng)弦(xian)→正(zheng)弦(xian)掃(sao)頻(pin)→隨機(ji)振動發展的。www.jooway.net www.juweishanghai.com www.juweish.com www.shjuwei17.com 4006306773;;60496773;王(wang)

隨機(ji)振動控制系統技術方案書

（USB 版本）

目錄

1 引言

2 系統(tong)性能(neng)

3 硬件配置及安裝步驟

4 振(zhen)動控制軟件的一(yi)般使(shi)用方(fang)法

5 正弦掃頻試驗的操作方法

6 隨機振動試驗的操作方法(fa)

7 沖擊試驗控(kong)制的操作方法

8 沖擊響(xiang)應譜（簡(jian)稱沖擊譜）綜合

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隨機振動控制(zhi)系統使用說明(ming)書（USB版本）

1. 引言

本振(zhen)動(dong)(dong)(dong)控(kong)制(zhi)系統主要是(shi)(shi)用(yong)作(zuo)振(zhen)動(dong)(dong)(dong)和(he)沖擊試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)控(kong)制(zhi)。從(cong)振(zhen)動(dong)(dong)(dong)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)的(de)歷史(shi)來看，試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)是(shi)(shi)從(cong)定頻(pin)(pin)(pin)正(zheng)弦(xian)(xian)→正(zheng)弦(xian)(xian)掃頻(pin)(pin)(pin)→隨(sui)機(ji)(ji)振(zhen)動(dong)(dong)(dong)發(fa)展的(de)。正(zheng)弦(xian)(xian)定頻(pin)(pin)(pin)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)可(ke)以(yi)對(dui)選定的(de)一(yi)個(ge)或數個(ge)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)（通常選為試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)的(de)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)）下對(dui)試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)進(jin)行振(zhen)動(dong)(dong)(dong)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)，由于(yu)(yu)不(bu)(bu)可(ke)能測(ce)出試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)所(suo)有的(de)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)，再由于(yu)(yu)非(fei)線性因(yin)素和(he)結(jie)構損傷(shang)(shang)的(de)影響(xiang)，共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)本身在試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)過程中也(ye)(ye)是(shi)(shi)變化的(de)，于(yu)(yu)是(shi)(shi)就(jiu)發(fa)展了(le)正(zheng)弦(xian)(xian)掃頻(pin)(pin)(pin)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)，試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)過程中對(dui)試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)所(suo)有的(de)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)都能考(kao)核(he)到。為什么(me)又要進(jin)行（寬帶(dai)）隨(sui)機(ji)(ji)振(zhen)動(dong)(dong)(dong)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)呢(ni)？一(yi)是(shi)(shi)實際飛機(ji)(ji)、火箭、船舶、車(che)輛上測(ce)得的(de)振(zhen)動(dong)(dong)(dong)環境接(jie)近于(yu)(yu)寬帶(dai)隨(sui)機(ji)(ji)，二是(shi)(shi)計(ji)算(suan)機(ji)(ji)技術飛速發(fa)展和(he)快速數字(zi)譜(pu)分(fen)析算(suan)法（FFT）的(de)發(fa)明使得技術上有了(le)實現(xian)的(de)可(ke)能；從(cong)對(dui)試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)損傷(shang)(shang)和(he)工作(zuo)可(ke)靠(kao)性的(de)影響(xiang)來看，正(zheng)弦(xian)(xian)掃頻(pin)(pin)(pin)與寬帶(dai)隨(sui)機(ji)(ji)也(ye)(ye)有很大的(de)差(cha)別，舉例(li)來說，正(zheng)弦(xian)(xian)掃頻(pin)(pin)(pin)時(shi)(shi)試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)各(ge)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)依(yi)次(ci)(ci)發(fa)生共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)，而(er)寬帶(dai)隨(sui)機(ji)(ji)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)時(shi)(shi)，試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)各(ge)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)同(tong)時(shi)(shi)發(fa)生共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)，若有一(yi)繼(ji)電器常開觸點的(de)兩彈簧片有不(bu)(bu)同(tong)的(de)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)，可(ke)能它們依(yi)次(ci)(ci)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)時(shi)(shi)不(bu)(bu)相(xiang)(xiang)碰(peng)，但同(tong)時(shi)(shi)共(gong)(gong)(gong)(gong)振(zhen)時(shi)(shi)就(jiu)相(xiang)(xiang)碰(peng)，而(er)造成儀(yi)器工作(zuo)的(de)不(bu)(bu)正(zheng)常。這個(ge)例(li)子(zi)可(ke)以(yi)形象地(di)說明正(zheng)弦(xian)(xian)掃頻(pin)(pin)(pin)與隨(sui)機(ji)(ji)振(zhen)動(dong)(dong)(dong)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)的(de)差(cha)別。一(yi)句話，隨(sui)機(ji)(ji)振(zhen)動(dong)(dong)(dong)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)更接(jie)近于(yu)(yu)實際振(zhen)動(dong)(dong)(dong)環境，對(dui)試(shi)(shi)(shi)(shi)件(jian)的(de)考(kao)核(he)也(ye)(ye)較嚴格，從(cong)而(er)更容(rong)易保證您的(de)產品的(de)質量。美軍(jun)標MIL-STD-810F更推薦隨(sui)機(ji)(ji)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)時(shi)(shi)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)分(fen)辨率(lv)采用(yong)800譜(pu)線，本系統能滿足此(ci)要求。

    對于渦輪(lun)螺(luo)槳式飛機(ji)(ji)，直(zhi)升機(ji)(ji)，和機(ji)(ji)載(zai)炮(pao)擊(ji)振(zhen)動，主(zhu)要(yao)振(zhen)動環(huan)境(jing)為(wei)寬帶隨機(ji)(ji)加窄(zhai)帶隨機(ji)(ji)或(huo)寬帶隨機(ji)(ji)加多(duo)頻(pin)正弦(xian)(xian)振(zhen)動，美軍標MIL-STD-810D～F規定(ding)要(yao)作這兩(liang)種模擬，窄(zhai)帶及正弦(xian)(xian)頻(pin)率(lv)(lv)一(yi)般不變。本系(xi)統能完(wan)成寬帶加窄(zhai)帶隨機(ji)(ji)和正弦(xian)(xian)加隨機(ji)(ji)試驗，窄(zhai)帶及正弦(xian)(xian)頻(pin)率(lv)(lv)可以掃頻(pin)。

    關(guan)于沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)(shi)驗(yan)，早先多半(ban)(ban)采用跌落式(shi)，凸輪式(shi)等機(ji)械沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)(shi)驗(yan)裝(zhuang)置，這(zhe)些裝(zhuang)置結(jie)構(gou)簡單，但對沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)參數（沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)加(jia)(jia)速度(du)、波形、沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)時間(jian)(jian)(jian)等）的(de)調(diao)整較麻煩，波形不(bu)準確。在(zai)實際沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)環境中(zhong)有兩種(zhong)理想的(de)加(jia)(jia)速度(du)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)波形：半(ban)(ban)正(zheng)弦波模擬了(le)*彈性(xing)碰撞；后峰鋸齒(chi)波模擬了(le)*塑性(xing)碰撞，沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)時間(jian)(jian)(jian)常取11ms和6ms。本系統能(neng)夠很方便地在(zai)振(zhen)動臺上模擬這(zhe)兩種(zhong)波形和不(bu)同時間(jian)(jian)(jian)不(bu)同加(jia)(jia)速度(du)的(de)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)(shi)驗(yan)，且有較高的(de)精度(du)。

從(cong)美軍標MIL-STD-810D沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)驗規范(fan)開(kai)始，要求(qiu)首(shou)先(xian)滿足規定的沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)響應譜(pu)(pu)而對(dui)波(bo)形卻(que)不作規定，它認為(wei)這種模擬(ni)方式zui能準確地(di)模擬(ni)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)環(huan)境對(dui)產品(pin)不同自振頻率的部件產生同樣嚴格(ge)的沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)效果。為(wei)適應這種沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)驗要求(qiu)發展的趨勢，本系統(tong)開(kai)發了(le)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)譜(pu)(pu)合成的功能，圓滿地(di)解決了(le)此問(wen)題，這是(shi)任何機械式系統(tong)所(suo)不可能完成的。

報價單

2   系統性能

2.1   正弦掃(sao)頻

  控制(zhi)和測量通(tong)道      4

  頻率范圍            5～5000Hz

  掃頻包線            等幅、等速度、等加(jia)速度、變(bian)加(jia)速度

  分(fen)析方式            RMS、跟蹤濾波

  掃(sao)頻(pin)方式            線性—對數(shu)、正(zheng)反掃(sao)、定頻(pin)

2.2   隨機振動（包(bao)括(kuo)寬帶加(jia)窄(zhai)帶和寬帶加(jia)正弦）

  控制(zhi)和測量通道      4

  頻率范圍            5～5000Hz

  寬帶譜線數(shu)    100～1600線

    控制譜動態范(fan)圍      >60dB（自閉環）

  窄帶譜(pu)或正弦譜(pu)線數  0～10

2.3   沖(chong)擊試驗(yan)控制

  脈沖時間   ;         1～30ms

  波形(xing)                半正弦、三角、鋸齒(chi)、方波

  沖擊譜(pu)合成(cheng)      頻譜范圍 5～2000Hz

3    硬件配(pei)置及占用主機資源

3.1本(ben)系統采用4通道16位高(gao)速A/D和一個16位D/A，采集通過(guo)率都達(da)到100KS/S以(yi)上，由32位定時(shi)器(qi)對D/A和A/D進行連續不間斷(duan)的控制(zhi)(zhi)。接口板(ban)采用(yong)USB 總線(xian)與主機(ji)(ji)相聯(lian)。現代(dai)微機(ji)(ji)運算速度(du)雖足夠高(gao), 它可以完成所有的運算工作（參數設置(zhi),文(wen)件存取打(da)印(yin), ;輸出(chu)信號(hao)發生, 數據(ju)處理, 均衡控制(zhi)(zhi), 實時(shi)顯示等），但(dan)為(wei)了減少輸入輸出(chu)數據(ju)量(liang)，提高(gao)USB串行口的控制(zhi)(zhi)速度(du)和效率(lv)，板(ban)上配有32位浮點(dian)數字信號處(chu)理(li)器(qi)（DSP），由它(ta)對(dui)數據(ju)進行預處(chu)理(li)，再與主(zhu)機進行(xing)數據(ju)和(he)控制(zhi)信(xin)號(hao)的交換。

3.2 系統zui多有9路低通(tong)(tong)濾(lv)波(bo)器, 一路用(yong)于D/A輸出(chu)平滑濾(lv)波(bo)，其它用(yong)于輸入抗(kang)混淆(xiao)濾(lv)波(bo), 采用(yong)集成(cheng)8階(jie)橢園型(xing)低通(tong)(tong)濾(lv)波(bo)器，用(yong)于輸入信(xin)號的(de)濾(lv)波(bo)器可(ke)以選旁(pang)路直通(tong)(tong), 而D/A輸出(chu)的(de)一路濾(lv)波(bo)器始終(zhong)是(shi)接(jie)通(tong)(tong)的(de)。用(yong)接(jie)口(kou)板上的(de)時鐘信(xin)號經(jing)過分頻(pin)來控制濾(lv)波(bo)頻(pin)率(lv)，其特性:

     截止頻率: 62.5～8000Hz八檔

     通(tong)帶波動(dong): <0.2dB

     衰減率:&nbsp;&nbsp; 135dB/Oct

     帶外(wai)衰減(jian):&nbsp;1.5倍截止頻率外(wai)80dB

3.3 輸(shu)入和輸(shu)出zui大幅(fu)度(du)均為+/-10V，可以通過輸(shu)出電位計調正輸(shu)出幅(fu)度(du)。

3.4 為了(le)避(bi)免(mian)計(ji)算(suan)機(ji)資(zi)源沖突(tu), 計(ji)算(suan)機(ji)內(nei)盡可(ke)能不裝多余設備，如(ru)聲卡，MODEM等，為了(le)避(bi)免(mian)USB總線速度的競爭沖突(tu), 在(zai)試驗進(jin)行時，計(ji)算(suan)機(ji)USB總線上(shang)盡可(ke)能不掛多余設備。

3.5 設備運行(xing)環(huan)境：P3以上(shang)PC，128M以上(shang)內存，1024X768以上(shang)顯示器，Windows 2000，Windows XP均(jun)可。

3.6 系統*次使用時，USB設備及驅(qu)動(dong)程(cheng)序(xu)和應用程(cheng)序(xu)安(an)裝步驟（假定F為CDROM驅(qu)動器號(hao)）：

3.6.1 用附帶的(de)USB電纜(lan)將(jiang)USB01接(jie)(jie)口箱與計算機USB接(jie)(jie)口連(lian)接(jie)(jie)，開接(jie)(jie)口箱電源(yuan)，啟(qi)動計算機，進(jin)入(ru)Windows 系統界(jie)面。

3.6.2 Windows報告(gao)發現新的硬(ying)件&ldquo;USB01 SYSTEM”，進入(ru)“添加新硬(ying)件向導”，點(dian)擊《下一步》。

3.6.3 將附帶(dai)的CD盤放到CDROM驅動器中。選(xuan)擇“搜(sou)索設(she)備(bei)的驅動程序(xu)”，點擊《下(xia)一(yi)步》。

3.6.4 ;選擇“CDROM驅動器(qi)”，點擊《下一步(bu)》。 

3.6.5 計算機在光(guang)盤中(zhong)找到“USB01智能(neng)采集器”。驅動程序位置 F:\USB01\INF，點擊《下(xia)一步》。

3.6.6 計(ji)算(suan)機開始拷貝所需要的USB驅(qu)動程序，zui后(hou)報告&ldquo;Windows 已(yi)經安裝了(le)新硬件設備(bei)所(suo)需的軟件”。點擊(ji)《完成(cheng)》。此時，USB01硬件已(yi)可以(yi)使用。通過Windows的(de)設備管(guan)理器可以(yi)檢查Windows是(shi)否(fou)正(zheng)確安裝了USB01的驅動(dong)程(cheng)序(xu)。在&ldquo;通(tong)用(yong)串行總線控制(zhi)器”項目下應能(neng)找到(dao)“USB01智能(neng)采集(ji)器”，用(yong)鼠標選中，雙擊鼠標右鍵可查看USB01是(shi)否(fou)安裝正(zheng)常。

3.6.7 將CD上(shang)F:\USB01\[8通道USB程序] ,[4通道(dao)USB程序] 或[2通道USB程序(xu)]中選擇一組合適(shi)您的軟(ruan)件拷入硬盤文件夾(jia)內，即可(ke)運行(xing)有關應(ying)用程序(xu):

CardTest.exe 診斷程序

RanVib.exe 隨機試驗程序

SinTst.exe 正弦試驗程序

ShkTst.exe 沖(chong)擊試驗程序

用“我(wo)的電(dian)腦”或“資源管(guan)理器”找到上述程(cheng)序，點擊(ji)右鍵《發送到》《桌面快捷方式(shi)》。

USB01.dll為動(dong)態連接庫。

3.7 系統診(zhen)斷: 控制箱(xiang)內／外開關(guan)選內循環位置(zhi)，振(zhen)動臺功放不開，濾(lv)波器在“直通(tong)”或“濾(lv)波”位置(zhi)，運(yun)行CardTest.exe診(zhen)斷程(cheng)序，點擊(ji)“TEST”，回答起止(zhi)通(tong)道號，此時D/A輸(shu)出100Hz 80%滿量程(cheng)正弦波，各(ge)通(tong)道信(xin)號均為光滑的正弦波，接近(jin)80.0%為正常。點擊(ji)“STOP”D/A停止(zhi)輸(shu)出。此時所有其它隨機振(zhen)動應用程(cheng)序均應能正常工作，可(ke)用來進(jin)行練習，也可(ke)作為診(zhen)斷工具。

4   振動(dong)控(kong)制軟件(jian)的一(yi)般使用方法(fa)

4.1 首先(xian)將振動臺與功放的電源(yuan)打開，通電預熱必要(yao)的時間。

4.2 將系統的(de)聯(lian)接線接好(hao)，D/A輸(shu)出接功放輸(shu)入，輸(shu)入1點起依次接控制通道(dao)(dao)的(de)電荷放大器(qi)輸(shu)出，聯(lian)機測(ce)量通道(dao)(dao)可接于控制點以外的(de)通道(dao)(dao)。

4.3&nbsp;確認輸出電位計(ji)位置為零，打開控制箱電源(yuan)，打印機(ji)電源(yuan)及微機(ji)電源(yuan)開關，進入中文WINDOWS 2000系統。（為使本說明(ming)(ming)書較(jiao)簡明(ming)(ming)，我們(men)假設用(yong)戶已(yi)經(jing)有了WINDOWS的基本操作(zuo)經(jing)驗。）

4.4 控(kong)制箱內／外(wai)開關打(da)在(zai)外(wai)循環位置,濾波器開關打(da)在(zai)“直通(tong)”或“濾波”位置。

4.5 系統診(zhen)斷：控(kong)制箱內(nei)／外開(kai)關選內(nei)循環(huan)位置(zhi)，振動臺功放不開(kai)，濾波器(qi)在“直通(tong)”或“濾波”位置(zhi)，運(yun)(yun)行(xing)(xing)CardTest.exe，點(dian)(dian)(dian)擊“TEST”，回答(da)起(qi)止通(tong)道(dao)號(hao)，此時D/A輸出100Hz，80%滿量(liang)程正(zheng)(zheng)弦波，各點(dian)(dian)(dian)測量(liang)值(zhi)均(jun)接近80.0%為正(zheng)(zheng)常。點(dian)(dian)(dian)擊“STOP” D/A停止輸出。運(yun)(yun)行(xing)(xing)其它所有應用程序均(jun)應能正(zheng)(zheng)常工作(zuo)，可用來(lai)進行(xing)(xing)練習，也可作(zuo)為診(zhen)斷工具。

4.6 運行振動(dong)控制程序(xu)，設(she)置試(shi)驗參數或調回試(shi)驗參數，在進入(ru)正式試驗運行之前再開功放高(gao)壓，防止開機過程引起對振動臺的沖(chong)擊！

由于WINDOWS是(shi)多用戶操作(zuo)系統，它允許多作(zuo)業同(tong)時運(yun)(yun)行，但(dan)為了保證振(zhen)動試(shi)驗(yan)(yan)的質量(liang)，在(zai)試(shi)驗(yan)(yan)運(yun)(yun)行時希望不要進行其它與試(shi)驗(yan)(yan)進程無關的操作(zuo)，不要運(yun)(yun)行其它程序（放送音(yin)樂，VCD，游(you)戲，上網(wang)，打印等(deng)等(deng)），試(shi)驗(yan)(yan)過程中(zhong)盡量(liang)不(bu)要用(yong)鼠標(biao)或鍵盤(pan)進行干擾(rao)，這將可能影響試驗(yan)控(kong)制(zhi)過程（比如振動信號不(bu)連續或采集的信號不(bu)連續）；本控(kong)制(zhi)系統(tong)只能控制一個(ge)振動(dong)試驗(yan)，在試驗(yan)運行(xing)時，絕不能再(zai)調(diao)用另一個（正弦，隨機，或沖擊）試驗程序，這將可能發(fa)生(sheng)不可預見的后(hou)果！

試驗運行時切(qie)不要強制退出程(cheng)序，否則將丟失數據且不(bu)能控制(zhi)試(shi)驗(yan)過程！萬一試(shi)驗(yan)失控，應先(xian)(xian)將輸出(chu)增(zeng)益調到零，使試(shi)驗(yan)停止，再(zai)(zai)重新進(jin)(jin)入程序；如果發生死機（在WINDOWS下常(chang)有此(ci)事！），應先(xian)(xian)關閉功放高壓，按Ctrl+Alt+Delete強制(zhi)退出(chu)程序，或從新進(jin)(jin)入WINDOWS，或復位計算(suan)機或重新開(kai)機。在再(zai)(zai)次試(shi)驗(yan)以前，建議先(xian)(xian)運(yun)行CardTest程序，確(que)認控制(zhi)系統工作正常(chang)。如有問題，可(ke)關機再(zai)(zai)啟(qi)動后(hou)再(zai)(zai)試(shi)。

在(zai)Windows系統(tong)下工(gong)作(zuo)，好像離不(bu)開鼠(shu)(shu)標(biao)(biao)。其實本(ben)(ben)試(shi)驗(yan)(yan)控制程(cheng)(cheng)序重要操作(zuo)都(dou)可(ke)以(yi)不(bu)用(yong)(yong)鼠(shu)(shu)標(biao)(biao)而完(wan)成。在(zai)本(ben)(ben)程(cheng)(cheng)序中(zhong)用(yong)(yong)戶(hu)可(ke)以(yi)看到：Alt+F可(ke)以(yi)打(da)開“項目”，Alt+S打(da)開“試(shi)驗(yan)(yan)運行(xing)”，Ctrl+R為(wei)“試(shi)驗(yan)(yan)開始(shi)”，Ctrl+T為(wei)“試(shi)驗(yan)(yan)停止”，Ctrl+X為(wei)“退(tui)出(chu)程(cheng)(cheng)序”等(deng)等(deng)。而“Enter”鍵通常(chang)用(yong)(yong)于“確定”而Esc用(yong)(yong)于“取消”。用(yong)(yong)戶(hu)記得這些主要操作(zuo)后，在(zai)比如(ru)鼠(shu)(shu)標(biao)(biao)萬一(yi)失靈時(shi)，至(zhi)少可(ke)以(yi)順(shun)利地退(tui)出(chu)試(shi)驗(yan)(yan)。

4.7 退(tui)出振動試(shi)(shi)驗(yan)(yan)控制后，在(zai)退(tui)出程序或(huo)進入別的(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)前調回(hui)各(ge)種試(shi)(shi)驗(yan)(yan)數(shu)據，否則內存(cun)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)數(shu)據會丟(diu)失。數(shu)據可(ke)以(yi)(yi)存(cun)盤(pan)，存(cun)盤(pan)的(de)數(shu)據可(ke)用“WORD”，“寫(xie)字板&rdquo;等工(gong)具讀出和打(da)(da)印(yin)(yin)。屏(ping)幕(mu)(mu)圖形可(ke)以(yi)(yi)打(da)(da)印(yin)(yin)（單擊“項目”中(zhong)的(de)“打(da)(da)印(yin)(yin)”，自己設置放(fang)大比例(li)）。也(ye)可(ke)以(yi)(yi)單擊“查(cha)看”中(zhong)的(de)“屏(ping)幕(mu)(mu)打(da)(da)印(yin)(yin)”打(da)(da)印(yin)(yin)屏(ping)幕(mu)(mu)。也(ye)可(ke)以(yi)(yi)用各(ge)種外購屏(ping)幕(mu)(mu)捕捉拷貝工(gong)具進行剪接(jie)縮放(fang)處理(li)，拷貝，存(cun)盤(pan)，或(huo)移(yi)至(zhi)WORD中(zhong)直接(jie)寫(xie)報告(gao)，這樣更靈活。試(shi)(shi)驗(yan)(yan)后在(zai)History.txt文件中(zhong)留有所有試(shi)(shi)驗(yan)(yan)時(shi)間歷史記(ji)錄。

4.8如不(bu)(bu)需再進行(xing)試驗(yan)，可退出(chu)程(cheng)序（將(jiang)有(you)丟失試驗(yan)數據的警告）。計算(suan)機(ji)不(bu)(bu)用時關(guan)閉微機(ji)和打印(yin)機(ji)，將(jiang)輸出(chu)電位(wei)計置為零，關(guan)功放，再關(guan)閉控制箱。不允許在(zai)關(guan)閉(bi)功放之前(qian)先(xian)關(guan)控(kong)制(zhi)箱或關(guan)閉(bi)微(wei)機，這將可能導致對功放和振動(dong)臺的猛烈(lie)沖擊以至損壞(huai)。

附錄  抓圖工具SnagIt使用方法簡介：

l *次先安裝SNAGIT；

l 運行(xing)SnagIt，選Image Capture；

l Input設置為Active Window；OutPut設置為Printer；其(qi)它為缺省值(zhi)；

l 將SnagIt窗口zui小化；

l 屏幕上得(de)到需(xu)要的圖(tu)形(xing)，調(diao)整到適當大(da)小，按<CTRL><SHIFT><P>抓圖(tu)；

l 選(xuan)File - Save&nbsp;As可將圖形存盤（選(xuan)*.jpg或*.png等方式較*.bmp方式節省存儲空間）；

l 選File - Page Setup - Page Layout 可調整打印紙和打印圖(tu)形的(de)大小和位置。

l 選File - ;Print可將圖形打印。其它(ta)功能繁多(duo)，不一一介紹(shao)。

l :huangjiahuang.cn

5  正弦掃頻(pin)試驗(yan)的(de)操作方法

5.1 試驗前后的(de)準備工作見4.1～4.7節。

5.2 運行SINTST.EXE,出(chu)現(xian)主窗口。新試驗項目可以單(dan)擊“參(can)數設置&rdquo;，選“正弦(xian)掃頻”或“正弦(xian)定頻”。

如選正弦掃頻, 將會出現下列參(can)數設置對(dui)話框:

    各參(can)數設置的意義(yi)比較(jiao)明顯(xian), 不多解釋(shi)。

當有參數(shu)無需設置（如控制通道為1時的控制方式）或(huo)合(he)適的缺省值(zhi)，可(ke)以跳(tiao)過。

    對重要產(chan)品(pin)的試驗，為了增加試驗的可靠性，請采用多點zui大值控(kong)制代替單點控(kong)制，這(zhe)樣即(ji)使(shi)某一控(kong)制點失(shi)效，系統仍能正常(chang)工(gong)作。

上述問題設(she)置(zhi)完(wan), 點擊(ji)“下一(yi)步&rdquo;，系統會對(dui)上述數據進行越(yue)界檢測, 如有錯誤將自動(dong)報告并跳到該數據位置(zhi), 便于您(nin)及時(shi)修改.

    以(yi)后開始振(zhen)動包線(xian)設置, 您將(jiang)會看到（每頁(ye)4段(duan)）:

您可(ke)從上往下設置, ;每次輸(shu)入(ru)頻率,量值,單位三個數(shu)，輸(shu)入(ru)的段數(shu):

單位1=定加速(su)度，2=定速(su)度，3=定振幅，4=從上(shang)(shang)一頻率的(de)g值以任意（有限值）斜率的(de)直(zhi)線(xian)(xian)變至(zhi)下一頻率設(she)置的(de)g值。如上(shang)(shang)圖中(zhong)*行表示至(zhi)50Hz定振幅0.5mm，第(di)(di)二行表示直(zhi)線(xian)(xian)變至(zhi)200Hz 9g，第(di)(di)三(san)行表示：

200-2000Hz 定加速度(du)10g。

當有越界(jie)錯(cuo)誤, 也會報警并跳回該處請您修改。

段數的包線(xian)設置(zhi)完,&nbsp;擊“下(xia)一步（確定）”,系(xi)統顯示包線(xian)圖和計(ji)算結(jie)果:

      zui大加速(su)度&nbsp; XXX.XXg zui大振幅&nbsp;XX.XXX mm

您可在(zai)屏幕上看(kan)到顯示出的(de)掃描(miao)包(bao)線(xian)圖(tu), 橫(heng)坐(zuo)標為頻率對(dui)數(shu)坐(zuo)標, 縱坐(zuo)標為加速度g值,根據包(bao)線(xian)圖(tu)可再(zai)次核對(dui)您的(de)設(she)置, 特別應(ying)注意幾(ji)段包(bao)線(xian)之間是否銜接得好,系統(tong)允許設(she)置不連續包(bao)線(xian)。

5.3 正弦定頻試(shi)(shi)驗(yan)(yan), 不(bu)設置掃頻參(can)數(shu), 而設置試(shi)(shi)驗(yan)(yan)時間（分）,和(he)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)頻率,量(liang)值,單位。

5.4 設置的(de)參數(shu)存盤(pan)(pan)：點擊“項目(mu)&rdquo;中的(de)“另(ling)存為”或“存盤(pan)(pan)”，輸入存盤(pan)(pan)的(de)文(wen)(wen)件(jian)(jian)名(ming)(ming)，（請勿(wu)寫擴(kuo)展名(ming)(ming)，它將被自動取為.SIN）,如盤(pan)(pan)內有同名(ming)(ming)文(wen)(wen)件(jian)(jian), 則系統提示某(mou)文(wen)(wen)件(jian)(jian)已存在, 并問(wen)是否改(gai)名(ming)(ming)? 如不改(gai)名(ming)(ming),原文(wen)(wen)件(jian)(jian)將被新文(wen)(wen)件(jian)(jian)覆蓋。

5.5 將存盤內(nei)的(de)(de)數據文(wen)件的(de)(de)值(zhi)調回：點擊(ji)“項目(mu)”中(zhong)的(de)(de)“調出”，此(ci)時(shi)也(ye)應選擇您所要的(de)(de)文(wen)件名(ming)。或直接點擊(ji)已有的(de)(de)項目(mu)名(ming)。

5.6 參數修(xiu)改，點擊(ji)“參數設(she)置”中的“參數修(xiu)改”；如需(xu)存盤，參見5.4。

5.7 點擊“Run”按(an)鈕或選菜單“試(shi)驗(yan)運(yun)行”中的“試(shi)驗(yan)開始(shi)”或綠(lv)色(se)“R”按鈕(niu)或Ctrl+R鍵(jian)開(kai)始(shi)進行試驗。先設置試驗參數：

zui大(da)(da)測量(liang)通道數（缺省值為控制通道數），起始頻(pin)率(lv)(lv)應在(zai)zui小和zui大(da)(da)頻(pin)率(lv)(lv)之間。當(dang)需(xu)首先向下掃頻(pin)時，填(tian)寫頻(pin)率(lv)(lv)的負值。根據(ju)需(xu)要可以設置掃頻(pin)自動駐(zhu)留頻(pin)率(lv)(lv)及時間；如需(xu)自動將控制譜數據(ju)存(cun)(cun)(cun)盤(pan)(pan)(pan)，可設置存(cun)(cun)(cun)盤(pan)(pan)(pan)掃頻(pin)次(ci)數及存(cun)(cun)(cun)盤(pan)(pan)(pan)文(wen)件名(ming)（請加擴展名(ming)），存(cun)(cun)(cun)盤(pan)(pan)(pan)掃頻(pin)次(ci)數為0或未(wei)輸入存(cun)(cun)(cun)盤(pan)(pan)(pan)文(wen)件名(ming)則不存(cun)(cun)(cun)盤(pan)(pan)(pan)。存(cun)(cun)(cun)盤(pan)(pan)(pan)數據(ju)可在(zai)試驗(yan)后由WORD等工具調出處理(li)。

    控(kong)制(zhi)通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)必須從1開始(shi)向后順序(xu)排,其余通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)皆可(ke)用來(lai)測量(liang)。控(kong)制(zhi)通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)的測量(liang)與均衡是(shi)連續的，高頻時平(ping)均每秒(miao)50次以上，測量(liang)通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)則一(yi)秒(miao)測量(liang)記錄一(yi)次，為了加(jia)快測量(liang)速度，測量(liang)通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)應緊接在(zai)控(kong)制(zhi)通(tong)(tong)道(dao)(dao)(dao)后順序(xu)排列(lie)。

系統顯示預試結果；

如未選“開始(shi)(shi)正式試(shi)(shi)驗” 擊“繼續試(shi)(shi)驗”，則(ze)再次(ci)預試(shi)(shi)，擊“停止試(shi)(shi)驗”表示退出試(shi)(shi)驗。當顯示0 dB時(shi)驅動大(da)于或太小時(shi)，可先(xian)調正增(zeng)益電位(wei)(wei)計至適(shi)當位(wei)(wei)置(zhi)，系統將再次(ci)預試(shi)(shi)，如顯示數值合理, 選擇(ze)“開始(shi)(shi)正式試(shi)(shi)驗”，擊“繼續試(shi)(shi)驗”, 進入正式掃(sao)頻狀(zhuang)態,&nbsp;

此時屏幕上(shang)將出現+/-6dB允差限, 并每秒(miao)顯示描畫(hua)出當時的(de)響應曲線及試驗(yan)數據：

    由于振(zhen)動(dong)臺系統增(zeng)(zeng)益(yi)是隨頻率(lv)而(er)變的(de)(de)，掃頻過程中系統對增(zeng)(zeng)益(yi)變化能自動(dong)適(shi)應，自動(dong)調正(zheng)驅動(dong)信(xin)(xin)號(hao)，當增(zeng)(zeng)益(yi)降低很多時，有可(ke)能驅動(dong)信(xin)(xin)號(hao)飽和(he)達到 ，此時表現為誤(wu)差dB出現較大的(de)(de)負值(zhi),此時應適(shi)當增(zeng)(zeng)加一些增(zeng)(zeng)益(yi),即可(ke)消除(chu)此現象, 但經常出現在(zai)試件發生(sheng)共振(zhen)時, 短(duan)時間飽和(he)超差通常是允許的(de)(de)。

    如設置了存盤掃頻(pin)次數(shu)及(ji)存盤文件名（建(jian)議(yi)加擴(kuo)展名），則前次數(shu)控制譜數(shu)據掃頻(pin)時被(bei)自動保存于盤內,可在試驗后調出(chu)顯示和(he)打印。

    選(xuan)“試驗(yan)運行”中的“停掃/掃頻(pin)(pin)”鍵(jian)或(huo)按鈕(niu)“停/掃”或(huo)Ctrl+W鍵(jian)可使掃頻(pin)(pin)暫(zan)停，再按可恢復掃頻(pin)(pin),“反(fan)向掃頻(pin)(pin)”鍵(jian)或(huo)“反(fan)掃”按鈕(niu)可改變掃頻(pin)(pin)方(fang)向；按“STOP”按鈕或選(xuan)“停止(zhi)(zhi)試(shi)(shi)驗(yan)”或紅色“停&rdquo;按鈕為試(shi)(shi)驗(yan)暫停，再(zai)選(xuan)擇“繼續試(shi)(shi)驗(yan)”或“停止(zhi)(zhi)試(shi)(shi)驗(yan)”,并保留zui后一次掃(sao)頻的(de)圖(tu)形。否(fou)則將自動(dong)按設置的(de)掃(sao)頻次數完成試(shi)(shi)驗(yan)后自動(dong)停止(zhi)(zhi)試(shi)(shi)驗(yan)。

掃頻時，當誤差>3DB或<-6DB時，系統報警(jing)一次，當連續(xu)報警(jing)三次時，自動(dong)暫時退出試驗(yan)，并可(ke)選(xuan)擇“繼續(xu)試驗(yan)”或“停(ting)止試驗(yan)”。

定頻試驗的(de)操作類似掃頻而較簡單(dan)。定頻試驗運行時可(ke)以(yi)設置0至若干級(ji)“預(yu)試振級(ji)和時間”，用以(yi)進(jin)行同(tong)一頻率不(bu)同(tong)振級(ji)大小（-24dB -- +12dB）的(de)連(lian)續試驗。

選擇(ze)“幫助(zhu)&rdquo;中的“操作方(fang)法簡介”可得(de)到操作方(fang)法的實時(shi)幫助(zhu)。

5.8 試驗(yan)停止后，點(dian)(dian)擊(ji)“查看”中(zhong)的(de)“數(shu)(shu)據回調”或(huo)相應按鈕，并(bing)選擇通道號(hao)，通道號(hao)0表(biao)示(shi)(shi)控制(zhi)點(dian)(dian)，對于單點(dian)(dian)控制(zhi)通道0與1相同。可(ke)將內存中(zhong)前1-200次(ci)，及zui后一次(ci)掃(sao)頻的(de)測量數(shu)(shu)據調出來(lai)顯示(shi)(shi)，（掃(sao)頻試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)可(ke)實(shi)時顯示(shi)(shi)各測量點(dian)(dian)當時掃(sao)頻曲線），按<, >鍵,或(huo)按Shift <, Shift >鍵（快(kuai)速）可(ke)以控制(zhi)游標讀(du)取各點(dian)(dian)數(shu)(shu)據。如選中(zhong)“存盤”并(bing)鍵入(ru)“文(wen)(wen)件名”（建議文(wen)(wen)件名加擴展(zhan)名，如 .dat）則數(shu)(shu)據以文(wen)(wen)字型式(shi)被(bei)同時自(zi)動(dong)存入(ru)盤內。調用“WORD”或(huo)“寫字板”可(ke)將這些數(shu)(shu)據文(wen)(wen)件調出查看和打印。

5.9 點擊(ji)(ji)“項(xiang)目”中的(de)“退出(chu)(chu)”（試驗進(jin)行(xing)時變灰）或(huo)點擊(ji)(ji)右上(shang)角的(de)X或(huo)Ctrl+X鍵（試驗進(jin)行(xing)時無(wu)效）可退出(chu)(chu)正(zheng)弦掃頻程序。請千萬不要(yao)在試驗停止之前退出(chu)(chu)程序，因為(wei)這(zhe)樣將使(shi)振動試驗失(shi)控和丟(diu)失(shi)試驗數據！如不需(xu)要(yao)試驗了，應(ying)先關閉(bi)(bi)增益旋鈕，關閉(bi)(bi)振動臺(tai)功放(fang)，退出(chu)(chu)WINDOWS，zui后關閉(bi)(bi)微(wei)機。

5.10 正弦掃頻試驗技術

數(shu)字控制(zhi)系(xi)統在掃(sao)頻(pin)試(shi)驗(yan)控制(zhi)過(guo)程(cheng)中嚴(yan)格檢查控制(zhi)點的(de)(de)(de)超(chao)差，到一定限度會(hui)自動(dong)(dong)停機(ji)保護，我們認為(wei)積極的(de)(de)(de)辦法應(ying)(ying)該是(shi)改進(jin)試(shi)驗(yan)技術。引起超(chao)差的(de)(de)(de)常(chang)見主要(yao)(yao)(yao)原因(yin)(yin)，一是(shi)夾具和試(shi)件的(de)(de)(de)尖銳共(gong)振(zhen)(zhen)，二是(shi)試(shi)件－夾具－振(zhen)(zhen)動(dong)(dong)臺間的(de)(de)(de)間隙。振(zhen)(zhen)動(dong)(dong)試(shi)驗(yan)夾具的(de)(de)(de)設計是(shi)一項(xiang)專門的(de)(de)(de)技術，總的(de)(de)(de)要(yao)(yao)(yao)求應(ying)(ying)該是(shi)使(shi)(shi)*階(jie)共(gong)振(zhen)(zhen)頻(pin)率(lv)盡可能提高，使(shi)(shi)得(de)在試(shi)驗(yan)頻(pin)率(lv)范圍內共(gong)振(zhen)(zhen)點減少，提高頻(pin)率(lv)的(de)(de)(de)方法，通常(chang)在材料方面以氬弧(hu)焊鋁(lv)結(jie)構代(dai)替(ti)鋼板焊接(jie)，厚度要(yao)(yao)(yao)足夠(gou)，要(yao)(yao)(yao)加筋，質(zhi)量(liang)要(yao)(yao)(yao)減輕，因(yin)(yin)此在不降低剛(gang)度的(de)(de)(de)條件下應(ying)(ying)去掉多余的(de)(de)(de)材料，不應(ying)(ying)過(guo)份強調夾具的(de)(de)(de)通用(yong)性而犧牲振(zhen)(zhen)動(dong)(dong)試(shi)驗(yan)的(de)(de)(de)質(zhi)量(liang)。試(shi)件內的(de)(de)(de)和安(an)裝(zhuang)間隙（包括看不見的(de)(de)(de)幾(ji)微米(mi)的(de)(de)(de)間隙）的(de)(de)(de)存在，在振(zhen)(zhen)動(dong)(dong)試(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)中引起撞擊，使(shi)(shi)波形嚴(yan)重失(shi)真并超(chao)差，安(an)裝(zhuang)過(guo)程(cheng)一定要(yao)(yao)(yao)消除間隙，安(an)裝(zhuang)牢靠(kao)。

共振(zhen)搜索和(he)共振駐留試驗：由于動力(li)吸振(zhen)器原理，掃頻時共振頻率處出現(xian)驅動譜的峰和傳遞(di)函數的谷，由此可判斷(duan)共振(zhen)。又由于(yu)掃頻的滯后(hou)效(xiao)應，應該取正掃反掃出現的共振頻率(lv)(lv)的平均值設置駐留試驗的頻率(lv)(lv)。

6.隨機振動試驗的操作方(fang)法

6.1 試(shi)驗前(qian)后的準(zhun)備工作見(jian)4.1～4.7節。

6.2 運(yun)行RANVIB.EXE,出現(xian)主窗口。

6.3 新試驗項目可以(yi)單擊“參數設置”，選(xuan)“寬帶隨機”,“寬帶加窄帶”或“寬帶加正弦”。

如果選擇“寬帶隨機”，將會出(chu)現下列參數：

本系統對寬帶譜(pu)線數(shu)的設(she)置更靈(ling)活, 原(yuan)理上可(ke)以在100--1600內任意設(she)置，缺(que)省值(zhi)為(wei)(wei)400線。在較(jiao)高(gao)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)試驗(yan)(yan)時(shi)MIL-STD-810F推(tui)薦(jian)采用800線。您(nin)也可(ke)以根據(ju)zui低(di)和zui高(gao)試驗(yan)(yan)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)進(jin)行設(she)置, 使頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)分辨(bian)率(lv)(lv)(lv)為(wei)(wei)整數(shu), zui低(di)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)也為(wei)(wei)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)分辯率(lv)(lv)(lv)的整數(shu)倍，如zui低(di)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)10Hz，zui高(gao)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)500Hz，可(ke)設(she)譜(pu)線數(shu)為(wei)(wei)250，則(ze)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)分辯率(lv)(lv)(lv)為(wei)(wei)2.00Hz。由于(yu)試驗(yan)(yan)均衡(heng)速度(du)與頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)分辯率(lv)(lv)(lv)成反比(bi)，所以低(di)頻(pin)(pin)(pin)(pin)(pin)和試驗(yan)(yan)時(shi)間很短的試驗(yan)(yan)，比(bi)如不到1分鐘，宜選較(jiao)小的譜(pu)線數(shu)，否則(ze)試驗(yan)(yan)均衡(heng)速度(du)將會太慢。

   &nbsp;在時(shi)間很(hen)短的(de)試驗中，可選偽(wei)隨機，以(yi)加快(kuai)均(jun)衡速度(du)(du)。通常選真隨機，為(wei)其配置了兩種精度(du)(du)，較低精度(du)(du)統(tong)計自由度(du)(du)DOF=144，較高(gao)者DOF=240。

削波系數(shu)小(xiao)，可避免過大的(de)(de)加(jia)速度峰值(zhi)(zhi), 保護振(zhen)動臺。但會引起附加(jia)噪聲，使真(zhen)正的(de)(de)輸出譜與驅動譜不(bu)*，在(zai)(zai)試(shi)件有(you)尖銳(rui)共(gong)(gong)振(zhen)時共(gong)(gong)振(zhen)峰壓縮不(bu)下(xia)來，此時應(ying)考慮適當加(jia)大削波系數(shu)。在(zai)(zai)進行(xing)系統動態范圍測(ce)試(shi)時, 也(ye)應(ying)選用較大值(zhi)(zhi)。顯(xian)示的(de)(de)非零初始值(zhi)(zhi)為缺省值(zhi)(zhi)。其(qi)它各參數(shu)設置的(de)(de)意義比較明(ming)顯(xian)，不(bu)多(duo)解釋。

上(shang)述問題回答完, 系統會對上(shang)述數據(ju)進行(xing)越(yue)界檢測(ce), 如(ru)有錯誤(wu)將(jiang)報警(jing)并自動跳到該數據(ju)位置,&nbsp;便于您及時修改。按(an)“下一(yi)步”，開始(shi)其它(ta)參數設置。

設(she)置振級-時間(jian)表，推薦用3dB增(zeng)量(liang)。

寬帶譜(pu)設置(zhi),每段輸入三個(ge)數: 下一頻率(lv),譜(pu)1,譜(pu)2, 譜(pu)2=0 表示譜(pu)1 為(wei)斜(xie)率(lv)（dB/oct）

上圖(tu)表示(shi)從起始頻率20Hz至80Hz斜率為6dB/Oct，80-500Hz為0.1g^2/Hz，500-2000Hz為-6dB/Oct。

如(ru)全按PSD設(she)置(zhi)，*行可(ke)改設(she)為(wei)：譜(pu)1=0.00625，譜(pu)2=0.1；第二行：譜(pu)2=0.1；第三行：譜(pu)2=0.00625

（如上右圖）結果也一樣(yang)。以(yi)此類推，還可有其(qi)它設置方法(fa)。

如(ru)果(guo)選(xuan)“寬帶加窄帶”，則(ze)要輸入(ru)窄帶譜段數(shu)(shu)，每段輸入(ru)三個數(shu)(shu):頻率1,頻率2,譜（g^2/Hz）。

如果選“寬帶加(jia)正弦”，則要輸入正弦譜(pu)段數，每段輸入兩(liang)個數：頻率，加(jia)速度。

當(dang)窄帶(dai)或(huo)正弦部分需要(yao)掃(sao)頻時，需輸入掃(sao)頻參(can)數:

  （窄帶/正弦）掃(sao)頻(pin)帶寬(kuan) （ 0-20 ）%

    掃(sao)頻時間 （ 回到(dao)原點,秒(miao) ），掃(sao)頻次數，起始掃(sao)頻方向 （1 上,-1 下）

當有越界錯誤, 也會報(bao)警并跳回該處請您修改。

 譜設置(zhi)完, 系統計(ji)算并顯示結果(guo): DF=#.##Hz RMS（g）= #.##g RMS（v）= #.##v&nbsp;RMSA= #.##mm 

DF為(wei)頻(pin)率(lv)(lv)分辨率(lv)(lv), RMS（v）值(zhi)不宜(yi)太大(da)或太小，太大(da)易產生過份(fen)地削波，太小則(ze)增大(da)A/D編碼誤差，當出現這兩種(zhong)情況(kuang)時，系統將提出警(jing)告(gao)信息，您可以(yi)重新設置(zhi)控制(zhi)通道(dao)靈敏度(du)。還將顯示參考譜圖(tu)(tu)，橫坐(zuo)標(biao)為(wei)頻(pin)率(lv)(lv)對(dui)數坐(zuo)標(biao), 縱(zong)坐(zuo)標(biao)為(wei)譜密度(du)值(zhi),根(gen)據譜圖(tu)(tu)可再次核(he)對(dui)您的設置(zhi)。

6.4 當需要(yao)顯示或修改參(can)數時,選“參(can)數設置”中(zhong)的“參(can)數修改”，屏幕將顯示各(ge)參(can)數，并可(ke)作(zuo)修改。

6.5 選“項(xiang)目”中(zhong)的“另(ling)存為”可將(jiang)新設(she)置的參數存盤，輸入(ru)存盤的文(wen)件(jian)名(ming)（請勿寫擴展名(ming)，它將(jiang)被自(zi)動取為.VIB）,如(ru)盤內有同名(ming)文(wen)件(jian), 則系統提示某文(wen)件(jian)已(yi)存在, 并問是否改名(ming)? 如(ru)不改名(ming),原文(wen)件(jian)將(jiang)被新文(wen)件(jian)覆蓋。

6.6 選(xuan)“項目(mu)”中(zhong)的(de)“調出”，或直接點擊文(wen)件名，將盤內的(de)該(gai)數據文(wen)件的(de)值取(qu)出來。

6.7 按“Run”按(an)鈕或(huo)選菜單“試驗運(yun)行”中的“開始試驗”或(huo)按(an)綠(lv)色“R”按(an)鈕或(huo)Ctrl+R鍵可(ke)開始進行試驗。

     檢(jian)查濾波器(qi)頻(pin)率范圍應與(yu)系統提示頻(pin)率相*。 ;輸入zui大測量(liang)通道數, 試驗名(ming)。如(ru)需定時(shi)將控制譜數據自動(dong)存(cun)盤，可輸入自動(dong)存(cun)盤時(shi)間(jian)間(jian)隔（0-600分(fen)）及存(cun)盤文件名(ming)（請加(jia)擴展(zhan)名(ming)），時(shi)間(jian)間(jian)隔為0或未(wei)輸入文件名(ming)則不(bu)存(cun)盤。存(cun)盤數據可在試驗后由WORD等工具調出處理(li)。

  ;  試(shi)驗(yan)運行開(kai)始后，屏幕上顯示試(shi)驗(yan)運行信息：

    試驗運行初期，程(cheng)序自動檢查功放－振動臺－傳感器系統的(de)(de)增(zeng)益，如果太小，在正常運行時將會(hui)產生驅動信(xin)號的(de)(de)削波，此(ci)時顯示：

  &nbsp;  0dB驅(qu)動應增加 ###.#%   請檢(jian)查增益(yi)或開環!

    一(yi)般(ban)應增(zeng)大輸出(chu)電位計(ji)的開度(du)以后，選(xuan)“繼續試(shi)驗(yan)”，如果電位計(ji)已開到適當開度(du)，仍(reng)不(bu)見系統(tong)響應的提高，則(ze)可能(neng)是系統(tong)開環（可能(neng)振動(dong)臺不(bu)振動(dong)，或(huo)電荷(he)放大器無輸出(chu)信號(hao)），可選(xuan)“退出(chu)試(shi)驗(yan)”,檢查系統(tong),排(pai)除故障后再試(shi)。

    如果增益(yi)開度太(tai)大(da)(da)(da)，則(ze)表現(xian)為進入(ru)預試時振級太(tai)大(da)(da)(da)（以小(xiao)于－10dB進入(ru)預試較(jiao)好），且在(zai)振動(dong)穩定以后，驅動(dong)信號##％太(tai)小(xiao)（以為zui大(da)(da)(da)值），也會減小(xiao)安全余度,增大(da)(da)(da)Ｄ/Ａ輸出(chu)噪聲誤(wu)差。

6.8 在試驗(yan)運行過程中(zhong)可(ke)以(yi)實時得到當前狀態的各譜圖顯示及對(dui)試驗(yan)狀態的干(gan)預:

  選(xuan)(xuan)“查看”中的“譜(pu)(pu)圖選(xuan)(xuan)擇”或(huo)點擊(ji)相應按鈕，選(xuan)(xuan)擇顯(xian)示譜(pu)(pu)圖內容，可(ke)為: 控制譜(pu)(pu),參考(kao)譜(pu)(pu),驅動譜(pu)(pu),傳(chuan)遞函數,各點測量譜(pu)(pu)，通(tong)道(dao)號0表示控制點，對(dui)于單點控制通(tong)道(dao)0與1相同。也(ye)可(ke)改變橫(heng)坐標(biao)“對(dui)數/線性(xing)”，也(ye)可(ke)實時存盤(pan)，（試驗完再(zai)存盤(pan)），再(zai)用“WORD”或(huo)“寫字板”（脫機）顯(xian)示和打印數據(ju)。

    選“試驗運(yun)行”中的(de)“掃(sao)頻/停掃(sao)”,窄帶譜(pu)或(huo)正(zheng)弦譜(pu)可按設置的(de)掃(sao)頻參(can)數進(jin)行掃(sao)頻或(huo)停掃(sao)。

    選“試驗運行(xing)”中的(de)“增(zeng)加3dB”或按(an)(an)“升”按(an)(an)鈕或綠色↑按(an)(an)鈕，可升振(zhen)級(ji)(ji)3dB，直(zhi)到0dB為止，設(she)置的(de)當時(shi)的(de)振(zhen)級(ji)(ji)時(shi)間運行(xing)結束(shu)仍按(an)(an)程序設(she)置的(de)下(xia)一振(zhen)級(ji)(ji)運行(xing)，如在*級(ji)(ji)運行(xing)-6dB振(zhen)級(ji)(ji)5分鐘(zhong)時(shi)間內升級(ji)(ji)為0dB，5分鐘(zhong)結束(shu)以后將(jiang)自動轉(zhuan)為下(xia)一振(zhen)級(ji)(ji)例如-3dB運行(xing)。

    選“降(jiang)(jiang)低(di)3dB”或按“降(jiang)(jiang)&rdquo;按鈕(niu)或紅色↓按鈕(niu)，可將當時(shi)的振(zhen)級(ji)降(jiang)(jiang)3dB，直(zhi)至-18dB為止(zhi)。

選(xuan)“幫(bang)助(zhu)”中(zhong)的“操作(zuo)方法簡(jian)介”或“H”按(an)鈕可得到操作(zuo)方法的實時(shi)幫(bang)助(zhu)。

    按“STOP”按鈕或(huo)(huo)選(xuan)“試(shi)驗(yan)運行(xing)”中的“停(ting)止(zhi)試(shi)驗(yan)”或(huo)(huo)紅色“停(ting)”按鈕或(huo)(huo)Ctrl+T鍵，為退出振動運行(xing)，振動臺軟(ruan)停(ting)機,試(shi)驗(yan)運行(xing)結束(shu)，屏幕上顯示(shi)出振動日期，開始和停(ting)止(zhi)時(shi)間(jian)，此(ci)時(shi)保(bao)存zui后一幀數(shu)據，選(xuan)“譜圖選(xuan)擇” 或(huo)(huo)點擊(ji)相應按鈕調出各(ge)譜圖查看，也可(ke)將數(shu)據存盤（建議數(shu)據文件名(ming)加擴(kuo)展名(ming)，如(ru) .dat）。

試驗(yan)結束(shu)后，按<,>鍵,或按Shift <, Shift >鍵可以控(kong)制游標讀取(qu)選定譜(pu)圖各點數(shu)據。

6.9 警告與(yu)極限容(rong)差

   當有5％譜線誤差(cha)超(chao)過預先(xian)設置的警告容差(cha)，或(huo)有1條(tiao)以(yi)上譜線超(chao)過極限容差(cha)時，則屏幕上則顯示報警信息，并以(yi)16進制數顯示超(chao)差(cha)線數，超(chao)過極限容差(cha)1條(tiao)線顯示100，同時響鈴(ling)警告，如下次(ci)均衡不超(chao)差(cha)時則警告信息消失，鈴(ling)不再響。

   當(dang)均衡(heng)容差超過預先設置(zhi)的極限(xian)容差的譜線(xian)數(shu)(shu)超過10％譜線(xian)數(shu)(shu)時，則試驗(yan)(yan)自動停(ting)止，屏幕上顯(xian)示試驗(yan)(yan)起(qi)止時間(jian)，并保存有zui后一幀數(shu)(shu)據。經常出現超差停(ting)機往往是由(you)于試件或(huo)夾具(ju)的尖銳共振(zhen)或(huo)間(jian)隙(xi)間(jian)的撞擊引起(qi)，應該改進夾具(ju)的設計(ji)安裝，不得(de)已(yi)時可增大試驗(yan)(yan)容差。

6.10 意外(wai)程序中斷

由于(yu)計(ji)算機(ji)內部(bu)、外部(bu)的(de)原(yuan)因，計(ji)算機(ji)外設處于(yu)工作不正(zheng)常(chang)或按錯(cuo)鍵(jian)引起(qi)計(ji)算機(ji)程序中斷(duan)，或出現死機(ji)，但(dan)振動過程仍然可能在進(jin)行，此時應(ying)記下試驗(yan)時間(jian)，將增益旋到(dao)零，關功放高壓, 停止振動臺(tai)試驗(yan)，重新起(qi)動。

隨(sui)機振動(dong)試(shi)驗(yan)對于夾具設計的(de)要(yao)求和(he)安裝的(de)要(yao)求與(yu)正弦試(shi)驗(yan)是一樣的(de)。夾具共振頻率點也可能(neng)引(yin)起局部的(de)超(chao)差。本(ben)系統中(zhong)，如(ru)果(guo)超(chao)過(guo)極限公差帶(dai)的(de)譜(pu)線數(shu)(shu)小(xiao)于總譜(pu)線數(shu)(shu)的(de)10％時系統顯(xian)示(shi)超(chao)差線數(shu)(shu)由(you)試(shi)驗(yan)者決(jue)定是否允許，因(yin)為有些規范只允許5％的(de)超(chao)差。經(jing)驗(yan)表明，碰到(dao)超(chao)差譜(pu)線數(shu)(shu)較多的(de)情況,往往采用多點平(ping)均值控制方式, 問題能(neng)減輕。用戶不妨一試(shi)。

6.11 驅動譜記憶功能(neng)

   &nbsp;在(zai)作(zuo)一包括(kuo)夾具和試(shi)件在(zai)內的復(fu)雜結構的試(shi)驗(yan)(yan)時，由于(yu)存在(zai)有尖銳(rui)的共振與反共振峰谷，使(shi)均(jun)衡(heng)時間較長(chang)，均(jun)衡(heng)過(guo)程(cheng)不可免地經歷過(guo)超(chao)差(cha),為了解(jie)決此問題,在(zai)均(jun)衡(heng)好(hao)又退出試(shi)驗(yan)(yan)運行(xing)后，如果不重新設置參(can)數（或(huo)調出參(can)數），再進(jin)入試(shi)驗(yan)(yan)運行(xing)時，將以(yi)上次的驅動譜降低12dB開(kai)始進(jin)入試(shi)驗(yan)(yan)，將使(shi)均(jun)衡(heng)過(guo)程(cheng)大(da)大(da)加快。

6.12點擊(ji)“項(xiang)目”中的(de)“退(tui)出”（試驗(yan)進(jin)行(xing)時(shi)變灰）或點擊(ji)右(you)上角的(de)X或Ctrl+X鍵（試驗(yan)進(jin)行(xing)時(shi)無效）可退(tui)出隨機試驗(yan)程(cheng)序。請(qing)千(qian)萬不要在試驗(yan)停止之(zhi)前退(tui)出程(cheng)序，因為這樣將使(shi)振(zhen)(zhen)動試驗(yan)失控和丟失試驗(yan)數(shu)據！如不需要試驗(yan)了，應先關(guan)閉(bi)增益旋鈕(niu)，關(guan)閉(bi)振(zhen)(zhen)動臺功(gong)放，退(tui)出WINDOWS，zui后關(guan)閉(bi)微(wei)機。

6.13 正弦加隨機試驗控制的操作(zuo)方法(fa)

    所(suo)謂正(zheng)弦(xian)加(jia)隨機(ji)（Sine-on-Random）是(shi)(shi)在寬(kuan)帶真隨機(ji)信(xin)(xin)號(hao)的(de)基(ji)礎上加(jia)上若干條正(zheng)弦(xian)信(xin)(xin)號(hao)，通常第n條正(zheng)弦(xian)信(xin)(xin)號(hao)的(de)頻(pin)(pin)率為(wei)基(ji)頻(pin)(pin)正(zheng)弦(xian)信(xin)(xin)號(hao)的(de)n倍。這(zhe)種控制方式是(shi)(shi)美軍標(biao)MIL-STD-810D的(de)直升機(ji)試(shi)驗規(gui)范(fan)(fan)所(suo)要求的(de)。按通常的(de)隨機(ji)振動(dong)控制方式，頻(pin)(pin)率范(fan)(fan)圍和譜線(xian)數一(yi)經(jing)選定，頻(pin)(pin)率分辨率△F也就確定了，但系(xi)統要求正(zheng)弦(xian)信(xin)(xin)號(hao)的(de)基(ji)頻(pin)(pin)應是(shi)(shi)△F的(de)整(zheng)數倍，如果不是(shi)(shi)整(zheng)數倍便(bian)會引起試(shi)驗正(zheng)弦(xian)頻(pin)(pin)率較(jiao)大誤差。

    本系統利用譜線數(shu)設(she)置的靈活(huo)性(xing)，可以(yi)很(hen)方(fang)便地(di)將正(zheng)(zheng)弦(xian)信(xin)號(hao)頻率調(diao)正(zheng)(zheng)為△F的整數(shu)倍。&nbsp;

例如: 某試(shi)驗(yan)zui高試(shi)驗(yan)頻率500Hz,基(ji)本正弦頻率為11.8Hz, 我們如要使(shi)頻率分辨率為1.5Hz左右,可使(shi)其為第8條譜(pu)線， 則△F=11.8/8=1.475 Hz, 譜(pu)線數=500/1.475=339。

正弦加隨(sui)機(ji)總均(jun)方根G的計算方法(fa)為隨(sui)機(ji)均(jun)方G平方及各正弦G平方之和的平方根值。

正弦(xian)加速度(du)(du)理(li)論(lun)上是(shi)線(xian)譜(pu)，在參(can)(can)考譜(pu)和控制譜(pu)顯(xian)示時，將(jiang)正弦(xian)加速度(du)(du)G折算成等(deng)效(xiao)譜(pu)密(mi)度(du)(du)  PSD=G^2/（2*△F）。式中PSD為等(deng)效(xiao)譜(pu)密(mi)度(du)(du)，△F為頻率分辨(bian)率。測(ce)量(liang)譜(pu)為實際的測(ce)量(liang)值，由(you)于在測(ce)量(liang)時為避免隨機信號的功率泄(xie)漏而加了(le)海寧(ning)窗(chuang)，所以(yi)正弦(xian)峰值應比(bi)等(deng)效(xiao)參(can)(can)考譜(pu)低1.75dB，而帶寬偏寬，總(zong)能(neng)量(liang)不變。用(yong)外接頻譜(pu)分析(xi)(xi)儀分析(xi)(xi)時也是(shi)如此。

7 沖擊(ji)試驗控制的(de)操作方法：

7.1試驗前后(hou)的準(zhun)備(bei)工作見(jian)4.1～4.7節。

7.2 運行SHKTST.EXE程序,出現主窗口。

7.3 當要進行一項新試(shi)驗時，單擊“參數(shu)設置”，選“經典沖擊”或“沖擊譜”；

7.4 當選“經典(dian)沖擊”，將(jiang)會出(chu)現(xian)下列參數表：

     頻率范圍對于電動式振動臺一般為(wei)2000Hz, zui大4000Hz.

     普通方式的波形補償(chang)為單向沖擊(ji)位(wei)(wei)移，小位(wei)(wei)移方式為雙向相等(deng)的位(wei)(wei)移。

  &nbsp;  其它各參數的(de)意義比較明顯, 顯示的(de)非零初始值(zhi)(zhi)為缺省值(zhi)(zhi).

    上(shang)(shang)述參數(shu)(shu)設置(zhi)完, 系統(tong)會對上(shang)(shang)述數(shu)(shu)據進行越界檢(jian)測(ce), 如有錯誤(wu)將(jiang)報警并自動跳(tiao)到(dao)該數(shu)(shu)據位置(zhi), 便于您及時修(xiu)改.

擊(ji)“下一步(bu)”，開始其它參數設置:

  &nbsp;   No  沖擊水平（dB）    沖擊次數 

      1           -6.0           5

  2           -3.0        &nbsp;  5

  3   0.0    0

  .......

    沖擊(ji)水平從一(yi)個負dB水平開(kai)始, 試沖擊(ji)若干(gan)次,&nbsp;再逐級(ji)增(zeng)大（建議以(yi)3dB遞增(zeng)）,直至(zhi)0dB, 設置規定的沖擊(ji)次數(shu)。

  &nbsp; 參數設置完成后(hou)(hou)，系統進行波形前后(hou)(hou)置補(bu)償處理(li)，屏幕(mu)上顯示出(chu)：

  zui大加(jia)速度= ##.# g  位(wei)移= #.### mm  &nbsp;電(dian)壓 #.## v

電壓超過10V將建議(yi)您修改設置。

設(she)置(zhi)完屏幕顯示設(she)置(zhi)值和沖擊曲線(xian)。

7.5 如需修(xiu)改(gai)請選“參數(shu)設置”中(zhong)的“參數(shu)修(xiu)改(gai)”。

7.6 欲將參數(shu)存盤請選(xuan)“項目”中的“另存為(wei)(wei)”，輸入文件名(ming)請勿寫擴展(zhan)名(ming)，它將被自動取為(wei)(wei).SHK的擴展(zhan)名(ming)。

7.7 如需(xu)取(qu)出盤內的(de)(de)數據文(wen)件，請選(xuan)“項目”中(zhong)的(de)(de)“調出”，或直(zhi)接選(xuan)擇(ze)適當的(de)(de)文(wen)件名。7.8 按“Run”按鈕或(huo)選菜單“試(shi)驗運行”中的(de)&ldquo;開始試(shi)驗”或(huo)按綠色(se)“R”按鈕或(huo)Ctrl+R鍵開始進(jin)行試(shi)驗。

   試驗(yan)運(yun)行(xing)開(kai)始(shi)前，首(shou)先調(diao)正(zheng)增(zeng)益(yi)(yi)旋鈕(niu)到合適位(wei)置，調(diao)節振(zhen)動臺(tai)系統(tong)增(zeng)益(yi)(yi)到合適的范圍，注意濾波器頻率范圍, 回答(da)試驗(yan)名提問, 然后開(kai)始(shi)運(yun)行(xing)，先從(cong)小(xiao)到大實施試沖擊，同時進行(xing)均(jun)(jun)衡(heng)，每均(jun)(jun)衡(heng)一次顯示峰值(zhi)的百(bai)分比和在該水平下(xia)的沖擊次數等(deng)信息，當振(zhen)動臺(tai)系統(tong)增(zeng)益(yi)(yi)太大或太小(xiao)時顯示“0 dB時增(zeng)益(yi)(yi)值(zhi)將為：XXX%”，停止(zhi)均(jun)(jun)衡(heng)，等(deng)您調(diao)正(zheng)好增(zeng)益(yi)(yi)后繼續(xu)進行(xing)試驗(yan)，或退出試驗(yan)。

    均衡(heng)合格(ge)后，自(zi)動(dong)(dong)顯(xian)示(shi)控制(zhi)沖(chong)(chong)擊波(bo)(bo)形，并實施(shi)連續(xu)沖(chong)(chong)擊，每沖(chong)(chong)擊一次顯(xian)示(shi)一次峰(feng)值加速(su)度，百分比及沖(chong)(chong)擊次數。沖(chong)(chong)擊過程中可以選(xuan)“查(cha)看”中的“波(bo)(bo)形選(xuan)擇(ze)”選(xuan)擇(ze)顯(xian)示(shi)控制(zhi)波(bo)(bo)、參考波(bo)(bo)、驅(qu)動(dong)(dong)波(bo)(bo)或（通(tong)道2的）測量波(bo)(bo)。

點擊“試驗(yan)運行”中的“增加(jia)3dB”或“升”按鈕(niu)或綠(lv)色↑按鈕(niu)，和(he)“減少3dB”或“降(jiang)”按鈕(niu)或紅色↓按鈕(niu)為振級升降(jiang)，控制沖擊變到上一(yi)個或下一(yi)個振級。

需(xu)人為停(ting)止試驗時，按“STOP”按(an)(an)鈕(niu)或選(xuan)“試驗(yan)(yan)運(yun)行”中(zhong)的“試驗(yan)(yan)停止(zhi)”或按(an)(an)紅色“停”按(an)(an)鈕(niu)或Ctrl+T鍵(jian)，否則直(zhi)到(dao)設置的沖擊次數(shu)完(wan)成(cheng)后自動(dong)停止(zhi)試驗(yan)(yan)。 試驗(yan)(yan)結束(shu)后，按(an)(an)<,>鍵(jian),或按(an)(an)Shift <, Shift >鍵(jian)可(ke)以控制(zhi)游標讀取選(xuan)定圖形各點數(shu)據(ju)。

選擇&ldquo;幫助”中的(de)“操(cao)作方(fang)法(fa)簡介”可(ke)得到操(cao)作方(fang)法(fa)的(de)實(shi)時幫助。

點擊“項目(mu)”中的“退出(chu)”（試(shi)驗(yan)進行時變灰）或點擊右(you)上角(jiao)的X或Ctrl+X鍵（試(shi)驗(yan)進行時無效）可退出(chu)沖擊試(shi)驗(yan)程序。請(qing)千萬不(bu)要在試(shi)驗(yan)停止之前退出(chu)程序，因為(wei)這樣將(jiang)使振動(dong)試(shi)驗(yan)失(shi)(shi)控(kong)和丟失(shi)(shi)試(shi)驗(yan)數據！如不(bu)需(xu)要試(shi)驗(yan)了，應先關(guan)閉增(zeng)益旋鈕，關(guan)閉振動(dong)臺功放，退出(chu)WINDOWS，zui后關(guan)閉微機(ji)。

7.9 驅動(dong)譜記憶功能

    在(zai)作一(yi)包括夾具和試件(jian)在(zai)內的復(fu)雜(za)結構的試驗時(shi)，由于存在(zai)有尖銳的共(gong)(gong)振與反共(gong)(gong)振峰谷(gu)，使均衡(heng)時(shi)間較長，均衡(heng)過(guo)(guo)程不(bu)可免地經歷過(guo)(guo)超(chao)差,為了解決此問題,在(zai)均衡(heng)好(hao)又(you)退出試驗運行后，如果不(bu)重新設置(zhi)參數（或(huo)調出參數），再進入(ru)試驗運行時(shi)，將以(yi)上次的驅動譜(pu)降低12DB開始進入(ru)試驗，將使均衡(heng)過(guo)(guo)程大大加快。

7.10 注意您的(de)功放-振動臺(tai)-傳(chuan)感器-電荷放大器系統的(de)極(ji)性！它將(jiang)影響沖(chong)擊(ji)加速(su)度(du)(du)的(de)方向(xiang)(xiang)，當振動臺(tai)為垂直方向(xiang)(xiang)，我們認定(ding)向(xiang)(xiang)上的(de)沖(chong)擊(ji)加速(su)度(du)(du)（普通方式下沖(chong)擊(ji)位移為向(xiang)(xiang)下），為“正向(xiang)(xiang)沖(chong)擊(ji)”。當不能確定(ding)系統極(ji)性時(shi)，可(ke)進行空臺(tai)小加速(su)度(du)(du)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)(yan)以驗(yan)(yan)證，如果極(ji)性反了，正式試驗(yan)(yan)時(shi)可(ke)實(shi)施“反向(xiang)(xiang)沖(chong)擊(ji)”。也可(ke)將(jiang)傳(chuan)感器倒置安裝實(shi)施“正向(xiang)(xiang)沖(chong)擊(ji)”。

8  沖擊(ji)響應譜（簡稱沖擊(ji)譜）綜合(he)

8.1 概述    

以美國軍(jun)標MIL-STD-810D為代表的新沖擊(ji)試(shi)驗規范要求優先(xian)以沖擊(ji)響應譜作為瞬(shun)態試(shi)驗的標準(zhun)。

沖(chong)擊響應譜定(ding)義為一(yi)系(xi)列不同固有頻(pin)率(lv)的(de)單自由度(du)機械系(xi)統對于某瞬(shun)態沖(chong)擊的(de)zui大響應。常用加速度(du)響應譜，即輸(shu)入和響應都是加速度(du)。所(suo)以沖(chong)擊響應譜是響應加速度(du)對系(xi)統固有頻(pin)率(lv)的(de)函數(shu)(shu)。沖(chong)擊響應譜還與系(xi)統的(de)阻尼(ni)系(xi)數(shu)(shu)有關，MIL規范(fan)要求(qiu)放大因子(zi)Q=10，相(xiang)應于阻尼(ni)系(xi)數(shu)(shu)0.05。

沖(chong)(chong)(chong)(chong)擊(ji)譜(pu)綜(zong)合（Shock Spectra Synthesis）是(shi)以一系列不同(tong)基頻的(de)沖(chong)(chong)(chong)(chong)擊(ji)分(fen)(fen)波為(wei)基礎(chu)，以不同(tong)比例加以綜(zong)合，以得到規定的(de)沖(chong)(chong)(chong)(chong)擊(ji)響(xiang)應(ying)譜(pu)。每(mei)一個分(fen)(fen)波的(de)波形類似于一定基頻的(de)衰減振動曲線，這種(zhong)分(fen)(fen)波的(de)沖(chong)(chong)(chong)(chong)擊(ji)響(xiang)應(ying)譜(pu)在其基頻附近為(wei)zui高。    本系(xi)統(tong)的(de)(de)(de)沖擊譜(pu)綜(zong)合頻(pin)(pin)率范(fan)圍(wei)為20～2000Hz，即2個(ge)(ge)十(shi)倍頻(pin)(pin)程,沖擊譜(pu)分(fen)(fen)析頻(pin)(pin)率范(fan)圍(wei)為5～2000Hz，即2.6個(ge)(ge)十(shi)倍頻(pin)(pin)程，按規(gui)范(fan)要(yao)求，分(fen)(fen)析和綜(zong)合都(dou)是以1/6倍頻(pin)(pin)程為間(jian)距(ju)進行(xing)的(de)(de)(de)。分(fen)(fen)析的(de)(de)(de)阻尼系(xi)數范(fan)圍(wei)為   0.01～0.20，相應于放大因子Q=50～2.5，可選。

8.2   沖(chong)擊譜綜(zong)合操作(zuo)方法：

運(yun)行(xing)SHKTST.EXE，當進行(xing)一項新的(de)(de)試驗(yan)項目時選(xuan)“參數設置&rdquo;中的(de)(de)“沖擊譜(pu)”，將會出現：

頻率范圍對(dui)于電動式(shi)振動臺一般為(wei)2000Hz.

其它各參(can)數的(de)意義比較明顯, 顯示的(de)非零初(chu)始(shi)值為(wei)缺省值。上述參(can)數設置(zhi)完, 系統(tong)會(hui)對上述數據進行越(yue)界(jie)檢測, 如有錯誤將(jiang)報警(jing)并自動(dong)跳到該數據位置(zhi), 便于您及時修改。

    以后開始其它參數設(she)置,沖擊(ji)水(shui)平（dB）和沖擊(ji)次數的設(she)置同(tong)“經典沖擊(ji)”。

然后設置沖擊(ji)譜,屏幕上出現:

  起始頻率20Hz

    輸入頻率  &nbsp;量值    單(dan)位（ 0=dB/oct, 1=g）

0.0 0.0 0.0

  0.0 0.0 0.0

每行(xing)每次(ci)輸入3個數:下一拐點頻率(lv),量(liang)值,和單位（0=斜率(lv)dB/oct, 1=沖(chong)擊譜g）.

設置無誤擊“確定”認可(ke).

8.3 設(she)置(zhi)完成后(hou)，系統(tong)進行波(bo)形(xing)綜合(he)，沖擊(ji)譜(pu)分(fen)析，與設(she)置(zhi)值比較(jiao)，自動修正(zheng)分(fen)波(bo)比例(li)，重新(xin)綜合(he)和分(fen)析，當得到*擬(ni)(ni)合(he)結(jie)果時，顯示(shi)zui大(da)G，zui大(da)位移(yi)，zui大(da)電(dian)壓(ya)，末位移(yi)，zui大(da)擬(ni)(ni)合(he)誤差等數據，其中(zhong)MAXG，MAXD，不應超(chao)過振動臺的(de)(de)限(xian)制，zui大(da)電(dian)壓(ya)不應超(chao)過10V，末位移(yi)應接近于(yu)零(ling)。zui大(da)誤差通常能小于(yu)0.5dB。如果設(she)置(zhi)的(de)(de)譜(pu)形(xing)特殊(shu)，則(ze)可能某些頻率下會超(chao)過0.5dB。然后(hou)顯示(shi)設(she)置(zhi)沖擊(ji)譜(pu)和擬(ni)(ni)合(he)波(bo)分(fen)析的(de)(de)沖擊(ji)譜(pu)圖(tu)。擬(ni)(ni)合(he)的(de)(de)頻率范(fan)圍zui低只到20Hz，在(zai)20Hz以下的(de)(de)分(fen)析譜(pu)大(da)體(ti)上按6dB/OCT趨(qu)勢下降(jiang)，與810D規范(fan)相吻合(he)。

   本系統(tong)的(de)綜合過程(cheng)還自(zi)動進行波形修(xiu)正，修(xiu)正的(de)目標有(you)（1）末加速度=0；（2）末速度=0；（3）末位(wei)移(yi)=0；（4）zui大正位(wei)移(yi)=zui大負位(wei)移(yi)，（即振幅zui小），顯示出(chu)的(de)諸值(zhi)都是經過這些修(xiu)正的(de)。當(dang)zui大電壓≥10V時(shi)，系統(tong)會(hui)提示您（可重(zhong)新設置通道靈敏度值(zhi)）。

   綜合與分(fen)析結束，選“查看”中(zhong)的(de)“波(bo)形選擇(ze)&rdquo;選擇(ze)顯(xian)(xian)示參考波(bo)，即(ji)可顯(xian)(xian)示合成(cheng)的(de)沖擊波(bo)形，它與一般的(de)沖擊波(bo)不同之(zhi)處是(shi)有明顯(xian)(xian)的(de)多頻衰減(jian)振動成(cheng)份。

8.4 其它操作同經典沖擊(ji)。