兩(liang)箱式冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱&兩(liang)槽(cao)式高(gao)低溫(wen)(wen)沖(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱。該產(chan)品適(shi)用于電子元(yuan)氣件的(de)安全性(xing)能(neng)測試(shi)(shi)提供可靠性(xing)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、產(chan)品篩(shai)選試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)等，同(tong)時通過此裝備試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)，可提高(gao)產(chan)品的(de)可靠性(xing)和(he)進行產(chan)品的(de)質量控制。高(gao)低溫(wen)(wen)沖(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱是航(hang)空、汽車、家電、科研等領域(yu)*的(de)測試(shi)(shi)設備。

機(ji)械鈑金結構　　全(quan)部功(gong)能(neng)采用計算機(ji)控制(zhi)，系(xi)自(zi)主開發的軟件，有良好的操作界面，使(shi)用戶(hu)的操作和監測都更(geng)加簡單和直觀，保(bao)持(chi)功(gong)能(neng)可以使(shi)你正在(zai)運行的程序保(bao)持(chi)在(zai)目前的狀(zhuang)態下，可以臨時(shi)更(geng)改(gai)此程序段的數(shu)值，可以在(zai)屏(ping)幕上設(she)置時(shi)間和參數(shu)，使(shi)制(zhi)冷、加熱、提藍(lan)傳(chuan)送切換，按設(she)定值自(zi)動進行。

溫度沖擊試驗箱

^[1]

　冷(leng)箱(xiang)、熱箱(xiang)獨(du)立(li)控(kong)制，箱(xiang)門互相獨(du)立(li)，擴大試驗(yan)箱(xiang)的使(shi)用范圍（一(yi)箱(xiang)三(san)用）。

　　產品(pin)保溫效果(guo)可以得(de)到充分保證。

　　試驗箱門(men)與循(xun)環(huan)風機(ji)，提(ti)藍傳(chuan)動(dong)(dong)等互鎖，保護(hu)操作者的(de)安(an)全，一旦打開箱門(men)，循(xun)環(huan)風機(ji)和提(ti)藍傳(chuan)動(dong)(dong)的(de)電(dian)源會(hui)被自動(dong)(dong)切斷。

　　在箱頂有(you)標準引(yin)線(xian)孔管，方便用戶向箱內引(yin)入傳感器線(xian)，檢測電纜(lan)等類型引(yin)線(xian)。

控制系統

　　低溫區、高溫區轉換時間小(xiao)于等(deng)于15秒。

　　溫度恢復時間小于等于5分鐘。

符合標準

　　GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89

參數列表

選型

溫度運行控制系統

標準配置

　　多層加熱觸霜附照明玻璃視(shi)窗1套、試(shi)品(pin)架(jia)2個、測(ce)試(shi)引(yin)線孔（25、50mm）1個。

安全保護

　　漏電、短路、超溫、電機過(guo)熱、壓(ya)縮機超壓(ya)、過(guo)載、過(guo)電流保護(hu)。

溫度轉換時間

　　從低溫(wen)區到高溫(wen)區或(huo) <, /SPAN>從高溫(wen)區到低溫(wen)區 ≤15S。

溫度回復時間

　　&le;5min（與(yu)溫度(du)恢復條件有(you)關(guan)，既冷卻水溫、暴露(lu)溫差、恒溫時間(jian)、樣品重量有(you)關(guan)。

溫度沖擊方法

　　垂直兩箱法(fa) / 垂直三(san)箱法(fa)。

二(er)槽(cao)式冷熱(re)沖擊(ji)(ji)試(shi)(shi)(shi)驗箱JW-WDCS-100 兩箱式冷熱(re)沖擊(ji)(ji)試(shi)(shi)(shi)驗箱&兩槽(cao)式高(gao)低溫沖擊(ji)(ji)試(shi)(shi)(shi)驗箱。該產(chan)品適用于電(dian)子元氣件的安全性(xing)能測(ce)試(shi)(shi)(shi)提供可靠性(xing)試(shi)(shi)(shi)驗、產(chan)品篩選(xuan)試(shi)(shi)(shi)驗等，同(tong)時通過(guo)此(ci)裝(zhuang)備(bei)試(shi)(shi)(shi)驗，可提高(gao)產(chan)品的可靠性(xing)和(he)進行產(chan)品的質量控制。高(gao)低溫沖擊(ji)(ji)試(shi)(shi)(shi)驗箱是航空(kong)、汽(qi)車、家電(dian)、科研等領域*的測(ce)試(shi)(shi)(shi)設備(bei)。