可程式恒溫恒濕試驗箱JW-2005D

可程式恒溫恒濕試驗箱JW-2005D

可程式恒溫恒濕試驗箱JW-2005D

試樣說明

本試驗設備禁止(zhi)：

易燃、爆炸、易揮發性物質試樣的試驗及儲存(cun)

腐蝕性(xing)物質(zhi)試樣的試驗及(ji)儲存

生物試樣的試驗或儲存

強(qiang)電磁發射源試(shi)樣的(de)試(shi)驗及儲存

測(ce)試環境條件

設備(bei)四(si)周(zhou)氣流暢通(tong)，無高濃度粉塵，無腐蝕性或易燃易爆(bao)性氣體

環境(jing)溫度為5～35℃

相對濕度≤85%RH

主要技術參數

標稱內箱尺寸(cun)（mm）：W 600×H 750 ×D 500              

標(biao)稱內容(rong)積(L)：225 L

觀察窗(chuang)可(ke)視范圍(wei)（mm）：W 220×H 260 數量(liang)： 1個

溫度范(fan)圍：-50℃～+150℃

溫度均(jun)勻度：±2℃

溫度波(bo)動度：±0.5℃

濕度(du)范圍：20 %～98% RH

濕度波(bo)動(dong)度：±1.5%

濕度(du)偏差度(du)：±2%RH

升溫速率: 1-3℃/ min     （空載測試，全程平均值(zhi)）

降溫速率: 0.7-1℃/ min   （空載測試，全程平(ping)均值）

溫 度 偏 差：±2℃

格(ge)板：2塊

執 行 標 準：

滿 足 標 準：GB/T5170.2-1996  溫(wen)度試(shi)驗設備         ;  

            GB/T5170.5-1996 濕熱(re)試(shi)驗設備

            GB/T2423.1-2001      高低溫濕熱試驗設備

滿 足 標 準：GB-T10589-2008      低溫箱技術(shu)條件

            GB-T10586-2006       濕熱(re)箱技術條件

            GB/J545860-2005      高低溫濕熱試驗(yan)設備(bei)技術(shu)條件